XRD Дифрактометр Bruker D8 DISCOVER (PLUS)
XRD превосходящий ожидания! Высочайшая производительность в рентгеновской дифракции. Наиболее универсальное и гибкое XRD решение, идеально соответствующее требованиям исследований, разработок и контроля качества в промышленности и академической среде.
Семейство рентгеновских анализаторов D8 DISCOVER — это универсальные приборы, которые можно настроить для всех задач исследования материалов на основе рентгеновской дифракции и рассеяния, включая качественный и количественный фазовый анализ, структурный анализ, высокоразрешающую рентгеновскую дифракцию, рефлектометрию, картирование обратного пространства, дифракцию при скользящем падении (в плоскости GID), малоугловое рентгеновское рассеяние при скользящем падении (GISAXS), анализ напряжений и текстуры, а также микродифракцию, в зависимости от дополнительных принадлежностей.
Программное обеспечение DIFFRAC.DAVINCI помогает пользователю выбрать оптимальную конфигурацию прибора независимо от области применения. Программный пакет DIFFRAC.SUITE упрощает разработку и выполнение методов для начинающих пользователей, оказывая ненавязчивую поддержку экспертам. Мощное программное обеспечение для анализа позволяет проводить простой анализ одним нажатием кнопки с исключительной глубиной анализа для тех, кто заинтересован в достижении наилучших результатов.
Семейство D8 DISCOVER включает в себя варианты DISCOVER и DISCOVER Plus, отличающиеся стандартным гониометром D8 или гониометром ATLAS.
Благодаря очень просторному корпусу, D8 DISCOVER позволяет создавать индивидуальные конфигурации приборов, расширяющие границы возможностей лабораторной рентгеновской дифракции.
Только компания Bruker предлагает стандартную гарантию точности позиционирования, отклика и разрешения. Дифрактометр D8 DISCOVER Plus — самый мощный и универсальный рентгеновский дифрактометр на рынке.
В его основе лежит высокоточный гониометр ATLAS, в котором размещен высокоэффективный источник рентгеновского излучения Turbo X-ray (TXS-HE) и ведущий на рынке некопланарный манипулятор.
Он предназначен для структурной характеризации всего спектра материалов, от порошков, аморфных и поликристаллических материалов до эпитаксиальных многослойных тонких пленок, в условиях окружающей среды и при нестандартных условиях