-
Прямой микроскоп BX53IR
- Рентгеновские дифрактометры
- Рентгенофлуоресцентные спектрометры
- Оптико-эмиссионные спектрометры
- Спектрофотометры
- Газовые хроматографы
- Жидкостные хроматографы
- Микроскопы
- Лабораторные весы
- Промышленные весы
- Прочее
- Атомно-абсорбционные спектрометры
- Испытательные машины
- Стандартные образцы руд
- Стандартные образцы Conostan
- Портативные рентгенофлуоресцентные спектрометры
Прямой микроскоп BX53IR
Описание
Микроскоп BX53IR является модернизированной версией микроскопа BX53M. Отличие заключается в источнике отраженного света — это галогеновая лампа без ИК фильтра в сочетании с ИК-пропускающим фильтром на 1100 нм или 1200 нм. Предназначен для исследования полупроводников и микросхем. За счет длины волны обеспечивает наблюдение через непрозрачные материалы типа кремния или пластика.
Основные преимущества:
- широкопольная оптика 22 мм;
- набор специализированных объективов для работы с ИК-излучением, в т. ч. с увеличенной рабочей дистанцией;
- позволяет исследовать внутренние поверхности полупроводников, тыльные стороны чипов, а также инспектировать выступы микросборок (CSP bump).
| Область применения | Приборостроение и микроэлектроника, Криминалистика |
| Тип микроскопа | Прямой |
| Методы контрастирования | Светлое поле (BF), Простая поляризация (PO) |
| Возможность моторизации | Да |
| Увеличение от | 50 |
| Увеличение до | 1000 |
| Оптическая система | UIS2 (скорректированная на бесконечность) |
| Тип штатива | Отраженного света |
| Тип осветителя | Инфракрасный осветитель |
| Автофокус | Да |
| Ручной, мм | 76 × 52; 100 × 105; 150 × 100 |
| Максимальная высота образца, мм | 105 |
| Вес, кг | 15,8 |
