8 (7232) 61-93-50
Сканирующий электронный микроскоп JEOL JSM-IT300 | Квантум Групп
8 (7232) 61-93-50
Сканирующие микроскопы

Сканирующий электронный микроскоп JEOL JSM-IT300


Пробоподготовка
Нажимая на галочки, выберите
компоненты, необходимые для Вашей организации
Приставки



Выбрано:

Сканирующий электронный микроскоп JEOL JSM-IT300
Итого: 6 — 6 тенге

Чтобы узнать точную цену, оставьте свои контактные данные
В дополнение к высокому качеству изображения за счет улучшения освещающей системы, вакуумной системы и системы обработки сигналов, сканирующий электронный микроскоп JSM-IT300 является растровым электронным микроскопом, который может работать с высокой пропускной способностью, используя управление с сенсорного экрана и высокоскоростной предметный столик.

Расширенные функции
  • Качество изображения. Улучшенная электронная оптика для повышения качества изображения, быстрого набора изображения и скорейшего анализа.
  • Меньше зарядка. Новый режим сканирования подавляет эффект зарядки на непроводящих образцах.
  • Режим низкого вакуума (LV). Диапазон давления низкого вакуума от 10 до 650Па расширяет спектр материалов, которые могут быть легко наблюдаемы.
  • Навигация образца. Полностью автоматизированный, 5-осевой предметный столик ускоряет поиск интересующей области или ROI. Быстро найти область исследования или ROI по цветному изображению образца поможет SNS -Stage Navigation System (опция).
  • Анализ. Режим высокого тока, ток зонда до 1 мкА (≥20кВ). Продвинутая линза конденсора сводит к минимуму смещение фокуса и изображения при изменении зондового тока. Функция (компьютерного) эвцентрического вращения образца позволяет легко позиционировать область исследования или анализа.
Разносторонний
  • Большая камера образцов и большой предметный столик. Может принимать большие и тяжелые образцы, до 200 мм диаметром и 80 мм в высоту и до 2 кг.
  • Геометрия портов для аналитики. Многочисленные порты для различных аксессуаров, таких как EDS, EBSD и WDS. Копланарная геометрия EDS и EBSD. Двойная установка EDS детекторов (с углом в 180°) для увеличения производительности микроанализа.
  • Предметный столик двигается быстрее. Недавно разработанный моторизованный предметный столик позволяет быстрее позиционировать (в 1,5 раза быстрее, по сравнению с другими продуктами JEOL).
  • Полностью автоматический 5-осевой привод предметного столика. Механически эвцентрированный, асинхронный , 5 осевой (X, Y, Z, T, R) моторизированный предметный столик. Компьютерная эвцентрика наклона и коррекция вращения. встроена для высоких образцов или когда ROI находится не по центру оси вращения.
  • Новая вакуумная система. Новая вакуумная система для быстрой откачки после замены образца. Лучше сигнал в режиме низкого вакуума.
Интуитивно понятное управление
  • Сенсорный интерфейс. Удобная работа достигается посредством недавно разработанного графического интерфейса пользователя (GUI), который позволяет работать через сенсорный экран. Размер графического интерфейса регулируется таким образом, чтобы рабочая зона была оптимальна для анализа или обработки данных.
  • Многопользовательский/Многозадачный. Раздельный вход для различных пользователей позволяет использовать индивидуальные настройки среды и параметры работы для каждого.
  • Многоязычная. Легко меняет английский язык на японский в GUI.
Разрешение в режиме HV 3.0нм (30кВ), 15.0нм (1.0кВ)
Разрешение в режиме LV 4.0нм (30кВ BED)
Увеличение От ×5 до ×300 000
Предустановленные увеличения 6 уровней (Устанавливается пользователем)
Электронная пушка Полностью автоматическая и ручная настройки доступны
Катод Пре-центрированный на заводе вольфрамовый
Ускоряющее напряжение От 0.3кВ до 30кВ
Ток зонда От 1пА до 1μА
Давление в режиме LV От 10 до 650Па
Линза конденсора Прецизионная увеличивающая линза конденсора
Объективная линза Коническая линза
Диафрагма объективной линзы Трехступенчатая
Точная настройка по координатам Х и У доступна.
Память астигматизма Доступна
Сдвиг изображения ±50 μm (WD 10мм)
Автоматические функции Настройка Фокуса,
Яркости/контрастности,
Коррекция астигматизма
Замена образца Замена через дверь камеры образцов
Максимальный образец Диаметр: 200мм
Высота: 80мм (WD 10мм
Предметный столик Эвцентрический гониометрический столик
(5-осевой привод столика)
X: 125мм, Y: 100мм, Z: 80мм
Наклон: от -10 до 90°; Вращение: 360°
Рецепты Доступна
Доступны Изображение во вторичных электронах, изображение REF; Изображения в отраженных электронах: Compo, Topo и Shadow
Вспомогательные окна (Snap shot) 6 снимков (Можно сохранить, загрузить и воспроизвести условия съёмки)
Операционная система Windows®7
Монитор 23-дюймовая сенсорная панель
(Разрешение экрана 1920×1080
Количество пикселей 640×480; 1280×960;
2560×1920 или 5120×3840
Режим демонстрации изображения Множественный, На весь экран, Окно изменяемого размера, Сложение сигналов
Таблица цветового соответствия Доступна
(Гамма-коррекция, псевдоцветной и др.)
Гистограмма Доступна
Функция измерений Доступна (Расстояние между двумя точками,
расстояние между двумя линиями, диаметр, и др.)
3D измерения Доступны*2
Анаглифическое изображение Доступна
Программа создания отчетов Встроена
Выбор языка интерфейса Возможен в UI (Японский/английский)
Формат файлов изображений BMP,TIFF,JPEG
Автосохранение изображения Доступна
Система откачки Полностью автоматическая
Турбомолекулярный (TMP) и 1 или 2*1 роторных (RP) насосов
Переключение вакуумных режимов (HV/LV) Доступно из программы (UI)
Сканирующий электронный микроскоп JEOL JSM-IT300 предусматривает проведение испытаний со следующими продуктами:

Сканирующий электронный микроскоп JEOL JSM-IT300 предусматривает проведение испытаний в условиях, описанных в следующих стандартах:


© ТОО «Quantum Group»
2008 — 2017
8 (7232) 61-93-50