8 (7232) 61-93-50
Сканирующий электронный микроскоп JEOL JSM-7610F | Квантум Групп
8 (7232) 61-93-50
Сканирующие микроскопы

Сканирующий электронный микроскоп JEOL JSM-7610F





Выбрано:

Сканирующий электронный микроскоп JEOL JSM-7610F
Итого: 6 — 6 тенге

Чтобы узнать точную цену, оставьте свои контактные данные
Сканирующий электронный микроскоп JSM-7610F является растровым электронным микроскопом сверхвысокого разрешения с катодом Шоттки, который оснащен semi-in-lens объективной линзой.

Мощная оптика может обеспечить высокую производительность и высококачественный анализ. Он также подходит для анализа с высоким пространственным разрешением. Кроме того, режим Gentle Beam уменьшает энергию электронов зонда, что позволяет наблюдать поверхность образца с эффективным ускоряющим напряжением в несколько сотен вольт.
Высокое разрешение изображения и высококачественный анализ благодаря semi-in-lens объективной линзе
JSM-7610F сочетает в себе две проверенные технологии: электронную колонну с semi-in-lens объективной линзой, которая может обеспечить высокое разрешение изображения при низком ускоряющем напряжении и in-lens катод Шоттки, который обеспечивает стабильно большой ток зонда.

Это обеспечивает сверхвысокое разрешение в широком диапазоне токов зонда для всех приложений (от единиц пА до более 200 нА). In-lens катод Шоттки представляет собой сочетание катода Шоттки и специальной первой конденсорной линзы, и предназначен для более эффективного сбора электронов из эмиттера.
Изображения при низком эффективном ускоряющем напряжении в режиме Gentle Beam (GB)
В режиме Gentle Beam (GB) к образцу прикладывается отрицательное напряжение, замедляющее падающие электроны непосредственно перед образцом.

Таким образом улучшается разрешение на крайне низком ускоряющем напряжении. Поэтому в JSM7610F можно проводить наблюдения на нескольких сотнях вольт образцов, которые было бы трудно наблюдать в нормальных условиях, например, исследование плохо проводящих образцов, таких как керамика и полупроводники и т.д.
Разрешение SEI 1.0нм (15кВ), 1.3нм (1кВ), В режим анализа: 3.0нм (15кВ, PC 5нА, WD 10мм)
Увеличение От ×25 до ×1000 000
Ускоряющее напряжение От 0.1кВ до 30кВ
Ток зонда От нескрольких пА до 200нА
Линза оптимизации угла диафрагмы Встроенная
Детекторы электронов Верхний детектор, Нижний детектор
Энергетический фильтр Новый r-фильтр
Режим «Деликатный зонд»
(Gentle beam)
Встроенная
Предметный столик Эвцентрический, 5-осевой моторизированный
  Тип Type IA 2 Type II (необязательный) Type III (необязательный)
  X-Y 70мм×50мм 110мм×80мм 140мм×80мм
  Наклон От -5° до ~+70° От -5° до +70° От -5° до +70°
  Вращение 360°бесконечное 360°бесконечное 360°бесконечное
  WD 1.0мм до 40мм 1.0мм до 40мм 1.0мм до 40мм
Система откачки Два ионных насоса (SIP), турбомолекулярный (TMP), форвакуумный (RP)
Сканирующий электронный микроскоп JEOL JSM-7610F предусматривает проведение испытаний со следующими продуктами:

Сканирующий электронный микроскоп JEOL JSM-7610F предусматривает проведение испытаний в условиях, описанных в следующих стандартах:


© ТОО «Quantum Group»
2008 — 2017
8 (7232) 61-93-50