8 (7232) 61-93-50
Растровый электронный микроскоп сверхвысокого разрешения JSM-7800F | Квантум Групп
8 (7232) 61-93-50
Растровые электронные микроскопы

Растровый электронный микроскоп сверхвысокого разрешения JSM-7800F


Пробоподготовка
Нажимая на галочки, выберите
компоненты, необходимые для Вашей организации
Приставки



Выбрано:

Растровый электронный микроскоп сверхвысокого разрешения JSM-7800F
Итого: 6 — 11 тенге

Чтобы узнать точную цену, оставьте свои контактные данные
Растровый электронный микроскоп сверхвысокого разрешения JSM-7800F оснащен электронной пушкой на базе эмиттера Шоттки, супергибридной объективной линзой (конической объективной линзой, использующей скрещенные электростатические и электромагнитные поля) и новым пользовательским интерфейсом. Имея в распоряжении такие мощные функции, даже начинающий пользователь может легко получать изображения со сверхвысоким разрешением.

Комбинация магнитных и электростатических полей обеспечивает превосходный эффект, значительно улучшая разрешение растрового электронного микроскопа особенно при низких ускоряющих напряжениях. Кроме того, стандартный нижний детектор обеспечивает детектирование отраженных электронов, испускаемых при малых углах. Работа в режиме детектирования этих электронов позволяет снизить эффект электростатического заряда на поверхности образца.
Растровый электронный микроскоп сверхвысокого разрешения JSM-7800F имеет мощную электронно-оптическую систему, которая включает пушку Шоттки, погружённую в конденсор для получения яркого электронного луча и обеспечивающую острую фокусировку даже при больших токах.

Кроме того, поскольку при режиме микроанализа образец не находится в области электромагнитных полей объективной линзы, растровый электронный микроскоп сверхвысокого разрешения JSM-7800F обеспечивает энергодисперсионный и волнодисперсионный элементный анализ, анализ катодолюминесценции, анализ дифракции отражённых электронов и прочие аналитические функции.
Безмасляная высоковакуумная откачка турбомолекулярным насосом обеспечена в стандартной комплектации. Кроме того, растровый электронный микроскоп сверхвысокого разрешения JSM-7800F имеет новую функцию, которая позволяет одновременно, в режиме реального времени, наблюдение изображений с четырех детекторов.

В результате, вы всегда можете легко найти соответствующий вашим потребностям сигнал изображения. Кроме того, применяя напряжение смещения на образце, вы можете наблюдать непроводящие образцы, в том числе изоляционные материалы (керамика и т.д.) и полупроводники.

Стандартный 5-осевой моторизованный столик образцов не только предотвращает образец от контакта с корпусом и деталями детекторов для обеспечения безопасности, но и позволяет задать условия перемещения для каждого нового образца. Энергосберегающая система автоматически снижает потребление электроэнергии в случае, если РЭМ временно не используется.
Тип источника электронов эмиттер Шоттки
Пространственное разрешение 1,0 нм гарантированно (ускоряющее напряжение 15 кВ, обычный режим) 0,8 нм гарантированно (ускоряющее напряжение 15 кВ, низковольтный режим) 1,5 нм гарантированно (ускоряющее напряжение 1 кВ, обычный режим) 1,2 нм гарантированно (ускоряющее напряжение 1 кВ
Энергия электронного луча от 10 эВ до 30 кэВ
Увеличение от 25 до 1 000 000 крат
Ток луча 200 нА максимум
Аналитические приставки - опции ЭДС, ВДС, ДОЭ, анализаторы катодолюминесценции
Максимальный размер образца диаметр до 100 мм
Столик образцов Ось X: 70 мм Ось Y: 50 мм Ось Z: от 2 до 41 мм (непрерывно) Наклон: от –5 до 70° Вращение: 360° непрерывно
Система вакуумной откачки турбомолекулярная и ионная
Система шлюзования есть
Основное требование отсутствие вибрации и магнитных наводок
Растровый электронный микроскоп сверхвысокого разрешения JSM-7800F предусматривает проведение испытаний со следующими продуктами:

Растровый электронный микроскоп сверхвысокого разрешения JSM-7800F предусматривает проведение испытаний в условиях, описанных в следующих стандартах:


© ТОО «Quantum Group»
2008 — 2017
8 (7232) 61-93-50