8 (7232) 61-93-50
Растровый электронный микроскоп сверхвысокого разрешения JSM-7500F | Квантум Групп
8 (7232) 61-93-50
Растровые электронные микроскопы

Растровый электронный микроскоп сверхвысокого разрешения JSM-7500F


Пробоподготовка
Нажимая на галочки, выберите
компоненты, необходимые для Вашей организации
Приставки



Выбрано:

Растровый электронный микроскоп сверхвысокого разрешения JSM-7500F
Итого: 6 — 11 тенге

Чтобы узнать точную цену, оставьте свои контактные данные
JSM-7500F – растровый электронный микроскоп высокого разрешения с возможностью анализа углеродных наноматериалов и диэлектрических композитов на их основе без напыления проводящих покрытий на поверхность образца за счёт работы микроскопа в низковольтном режиме «Gentle Beam» (торможение электронов перед образцом и снижение энергии первичного пучка до 100 эВ).

В JSM-7500F используется особый электростатический фильтр внутри объективной линзы (r-фильтр) для фильтрации по энергии регистрируемых электронов.
С помощью этого фильтра обеспечивается формирование сигнала изображения SE, BE, SE+BE с управляемой пропорцией долей отражённых и вторичных электронов.

Микроскоп может быть укомплектован системой энергодисперсионного микроанализа производства фирмы JEOL. В этом случае модель имеет аббревиатуру JSM-7500FA.

Просим вас обратить внимание на описание этой же модели микроскопа в разделе "Оборудование для исследования новых материалов".
Тип источника электронов полевой эмиттер
Пространственное разрешение 0,1 нм
Энергия электронного луча от 100 эВ до 30 кэВ
Увеличение до 1 000 000
Ток луча от 1 пА до 2 нА
Детекторы "верхний" детектор, "нижний" детектор, детектор отражённых электронов
Аналитические приставки - опции система энергодисперсионного микроанализа, система текстурного анализа поликристаллических образцов
Максимальный размер образца до 203 мм в диаметре (предлагается в соответствие с запросом)
Столик образцов моторизован по всем 5-ти координатам в базовой конфигурации
Система вакуумной откачки турбомолекулярный насос
Система шлюзования обязательно включена (необходима консультация с поставщиком для правильного подбора)
Растровый электронный микроскоп сверхвысокого разрешения JSM-7500F предусматривает проведение испытаний со следующими продуктами:

Растровый электронный микроскоп сверхвысокого разрешения JSM-7500F предусматривает проведение испытаний в условиях, описанных в следующих стандартах:


© ТОО «Quantum Group»
2008 — 2017
8 (7232) 61-93-50