8 (7232) 61-93-50
Растровый электронный микроскоп с термополевой эмиссией и ионной пушкой JEOL JIB-4601F | Квантум Групп
8 (7232) 61-93-50
Микроскопы с ионным травлением

Растровый электронный микроскоп с термополевой эмиссией и ионной пушкой JEOL JIB-4601F





Выбрано:

Растровый электронный микроскоп с термополевой эмиссией и ионной пушкой JEOL JIB-4601F
Итого: 6 — 6 тенге

Чтобы узнать точную цену, оставьте свои контактные данные
Растровый электронный микроскоп с термополевой эмиссией и ионной пушкой JEOL JIB-4601F представляет собой многолучевую систему обработки образца, включающую в себя растровый электронный микроскоп с термополевым катодом Шоттки и высокоэффективную ионную колонну.

Прибор позволяет обрабатывать поперечное сечение образца в ФИП, а также получать изображения и производить анализ в растровом электронном микроскопе. ФИП может использоваться для точного травления и приготовления образцов для ПЭМ, а также для осуществления 3D анализа структуры образца благодаря автоматизированному травлению поперечного сечения, получения изображения и анализа в определенные промежутки времени. РЭМ с катодом типа Шоттки позволяет с легкостью манипулировать образцом, получать качественное изображение и анализ мельчайших структур.

Это система может применяться для широкого круга задач, включая научно-исследовательскую разработку и контроль качества продукции.
Многофункциональный анализ благодаря сочетанию высокопроизводительной системы ФИП и высокомощной оптики РЭМ.
Ионная колонна, с максимальным током зонда 60 нА, дает возможность быстрого травления поперечного сечения, в то время как катод Шоттки на РЭМ дает его изображение с высоким разрешением. Мощная электронная оптика (с максимальным током зонда 200 нА при 15 кВ) растрового электронного микроскопа позволяет выполнять высокоскоростной анализ, с высоким разрешением, например, элементный анализ с использованием ЭДС или ВДС, и EBSD-анализ ориентаций кристаллов.

Кроме того, есть огромный спектр дополнительных опций, таких как детектор прошедших электронов, механизмы для охлаждения образца, вроде криостолика или криоприставки и детектор катодолюминесценции.
Функция 3-мерного анализа структуры образца.
Благодаря автоматическому чередованию травления в ФИП с получением изображения в РЭМ и анализом (ЭДС картирование или EBSD-анализ кристаллической структуры) можно составить представление о 3х-мерной структуре образца. Процедуры могут быть проведены очень быстро, так как нет необходимости перемещать столик с образцом.

Совместимость с другими продуктами JEOL
Держатели образцов, используемые в JIB-4601F те же, что используются в полевых микроскопах JEOL.

Например, если фиксатор-ретейнер ПЭM используется в держателе серии JIB, нет необходимости в сложной манипуляции с образцом для ПЭМ, который уже установлен на сетчатую подложку, что существенно экономит время.
Электронная пушка термополевая типа Шоттки(ZrO/W)
Обьективная линза с внешним магнитным полем
Разрешение 1.2 нм при 30 кВ, WD4мм,
3.0 нм при 1 кВ WD2мм
Ускоряющее напряжение от 0.2 до 30кВ
Ток зонда от нескольких пА до 200нA при 15 кВ
Линза контроля угла преломления диафрагмы Встроенная
Увеличение от x20 до x1,000,000
Детекторы Нижний детектор электронов(LED)
опционально(*)
R-BED*
STEM*
Система Gentle beam встроенная (напряжение, прикладываемое к образцу от 0 до 300В)
Шлюзовая система Встроенная
(с напуском газообразного азота)
Столик образцов 6ти-осевой моторизованный столик
Диапазон перемещения столика X: 50 мм ,Y: 50 мм
Z: от 1.5 до 41 мм
T: -5 to 70°, R: 360°
Fz: от -3 до +3мм
Способ захвата держателя Зажим держателя в одно касание
Стандартные держатели Стандартные держатели :
φ12.5мм
φ32мм
Опциональные держатели :
76.2мм держатель пластины
100мм держатель пластины
125мм держатель пластины
150мм держатель пластины
Держатели объёмных образцов 3х типов
Держатель для нескольких образцов
STEM держатель
Фиксатор-ретейнер для ПЭМ
Держатель «в одно касание»
Камероскоп Видеокамера, вмонтированная в камеру образцов (опция)
Автоматические функции Автофокус
Автоматический контроль яркости
Управление системой Система управления РЭМ
ПК IBM PC/AT совместимый 〔SM-77360PC〕
Требования RAM 2 GB или больше
ОС Windows 7® Professional*
Дисплей 23 дюйма
Отображение изображения Разрешение изображения 1280×960 пикс., 800×600 пикс.
Режимы отображения Стандартный : SEM_SEI, FIB_SEI
Опциональный : SEM_COMPO, SEM_TOPO, AUX, CCD
Режимы сканирования / обработки изображения Сканирование по выделенной области, добавление сигнала изображения, измерительная линейка
Количество дисплеев: 1 диплей, 2 дисплея(по умолчанию), 4 дисплея
Вакуум высокий < 2.0 x 10E-4 Pa
(при использовании ГИС: <3.0E-3Pa)
Вакуумная система Гетероионные насосы(SIP) -2 шт. (РЭМ)
SIP x 1 (ФИП)
ТМН – 1шт., ротационный насос – 1шт.
Энергос берегающий режим В обычном режиме – около 2 кВА
Co2эквивалент выбросов Выбросы СО2 в год
при нормальном функционировании 4967kg
Защитные системы Защита от утечки вакуума и протечки воды, падения давления газа (азота), утечки тока. Тем не менее, механизм поддержания ультра высокого вакуума при отключения электроэнергии не включается.
Периметр прибора Периметр прибора 3200мм или более × 3000мм или более
требование к монтажу требования по элнетропитания Одна фаза 100 В, 50 /60 Гц , макс. 4 кВА ,,
Среднее потребление ок. 2.0kVA
Допустимое отклонение входящего питания в пределах ± 10 %
Ззаземление 100Ω или менее х 1
охлаждающая вода
Кран внешний диаметр 14 мм х 1 или JIS B 0203 Rc 1/4 х 1
Расход 0,5 л / мин
Давления воды 0,1 до 0,25 МПа ( избыточное давление ) Температура воды 20 ° ± 5 ℃
Дренаж внутренный диаметр 25 мм или более x1 или JIS B 0203 Rc 1/4 х 1
Сухой азот газ JIS B 0203 Rc 1/4 (предоставляется пользователем)
Давления 0,45 до 0,55 МПа ( избыточное давление)
Помещение для установки
Температура в помещении 20 ℃ ± 5 ℃
Влажность 60% или ниже
Колебания внешнего переменного магнитного поля 0.3мкт (двойная амплитура) или менее ( 50/60 Гц паразитная волна , рабочее расстояние 10 мм, 15 кВ ) *1
Вибрации пола 3 мкм (двойная амплитура) или меньше * 1 на частоте паразитной волны более 5 Гц .
Уровень шума 70 дБ или меньше * 1 как характеристика квартиры
Размеры помещения для установки 3000 мм х 3000 мм или более
Высота 2300 мм или более
Размер двери 1000 * 2 мм (Ш ) х 2000 мм (В) или более

*1 Это не применяется для других, чем эти условия. Мы будем проводить опрос установка номера перед поставкой, и посоветоваться с вами максимальное увеличение наблюдения.
*2 Пожалуйста, проконсультируйтесь, если ширина двери 900 мм.
Основные дополнительные вложения EDS, WDS, ЭИ, CL, SNS и т.д.
Растровый электронный микроскоп с термополевой эмиссией и ионной пушкой JEOL JIB-4601F предусматривает проведение испытаний со следующими продуктами:

Растровый электронный микроскоп с термополевой эмиссией и ионной пушкой JEOL JIB-4601F предусматривает проведение испытаний в условиях, описанных в следующих стандартах:


© ТОО «Quantum Group»
2008 — 2017
8 (7232) 61-93-50