8 (7232) 61-93-50
Растровый электронный микроскоп JSM-6610 | Квантум Групп
8 (7232) 61-93-50
Растровые электронные микроскопы

Растровый электронный микроскоп JSM-6610


Пробоподготовка
Нажимая на галочки, выберите
компоненты, необходимые для Вашей организации
Приставки



Выбрано:

Растровый электронный микроскоп JSM-6610
Итого: 6 — 11 тенге

Чтобы узнать точную цену, оставьте свои контактные данные
Недорогие многоцелевые сканирующие (растровые) микроскопы JSM-6610 – удобные, простые в управлении, исключительно надежные приборы с компьютерным контролем и превосходными техническими характеристиками. Каждый из микроскопов серии выпускается в двух модификациях – стандартной (высокий вакуум) и низковакуумной (LV).

Последняя сочетает в себе возможности работы как в стандартном, так и в LV режимах. Низковакуумный режим работы позволяет исследовать образцы без напыления токопроводящего слоя, в том числе биологические и полимерные материалы, стекла, нефтематеринские породы и т.д. Каждый из приборов серии может оснащаться различными аналитическими приставками для определения химического состава (спектрометры с энергетической и волновой дисперсией), катодолюминесценции, кристаллической структуры и др.

В современных моделях предусмотрена возможность установки турбомолекулярного насоса и/или электронной пушки с гексаборид-лантановым катодом по желанию заказчика.
Микроскоп JSM-6610 (в отличие от JSM-6510) обладает камерой образцов большего размера и с большим количеством портов для одновременной установки различных аналитических приставок.

Кроме того, он оснащен моторизованным по 5-ти осям (X, Y, Z, наклон до 90º, вращение) столиком с компьютерным управлением.
Порты микроскопа располагаются таким образом, что детектор вторичных электронов, ЭД-спектрометр, волновой спектрометр и система анализа дифракции электронов (EBSD) расположены в одной полусфере.

Это дает уникальную возможность наблюдения и исследования образца с использованием одновременно всех детекторов и спектрометров. В микроскопах других моделей данного класса это невозможно.

LV и LA – модели РЭМ с переменным давлением вакуума для исследований непроводящих образцов без напыления; A и LA – модели РЭМ, включающие полностью интегрированную систему ЭД микроанализа JED-2300 (один компьютер – два монитора). A – стандартная высоковакуумная модель.
Тип источника электронов вольфрамовая нить, гексаборид-лантановый катод (опция)
Низковакуумный режим в моделях LV и LA
Пространственное разрешение 3 нм
Пространственное разрешение в низковакуумном режиме 4 нм
Энергия электронного луча от 300 эВ до 30 кэВ
Увеличение от 5 до 300 000 крат
Ток луча от 1 пА до 1 мкА
Детекторы SE для JSM-6610 и JSM-6610A (BE-опция); SE+BE для JSM-6610LV и JSM-6610LA
Аналитические приставки - опции система энергодисперсионного микроанализа, система волнодисперсионного микроанализа, система текстурного анализа поликристаллических образцов, спектральный анализ катодолюминесценции, охлаждающие (крио) и нагревающие столики образцов
Максимальный размер образца 200 мм диаметром, 80 мм толщиной
Столик образцов 5 координат, моторизован по всем осям
Система вакуумной откачки дифузионный насос
Система шлюзования опция
Растровый электронный микроскоп JSM-6610 предусматривает проведение испытаний со следующими продуктами:

Растровый электронный микроскоп JSM-6610 предусматривает проведение испытаний в условиях, описанных в следующих стандартах:


© ТОО «Quantum Group»
2008 — 2017
8 (7232) 61-93-50