8 (7232) 61-93-50
Растровый электронный микроскоп JIB-4501 Multibeam с ионной пушкой для микротравления | Квантум Групп
8 (7232) 61-93-50
Растровые электронные микроскопы

Растровый электронный микроскоп JIB-4501 Multibeam с ионной пушкой для микротравления


Нажимая на галочки, выберите
компоненты, необходимые для Вашей организации
Приставки



Выбрано:

Растровый электронный микроскоп JIB-4501 Multibeam с ионной пушкой для микротравления
Итого: 6 — 11 тенге

Чтобы узнать точную цену, оставьте свои контактные данные
Растровый электронный микроскоп JIB-4501 Multibeam с ионной пушкой для микротравления – новая простая в эксплуатации система РЭМ/ФИП (растровый электронный микроскоп/ионная пушка с фокусированным ионным пучком), объединяющая в себе ионную оптику и самую популярную в мире колонну РЭМ.

Прибор JIB-4501 «Мультибим» обеспечивает высокую производительность в различных вариантах применения, от наблюдения образцов до их ионного микротравления.
Растровый электронный микроскоп JIB-4501 Multibeam с ионной пушкой для микротравления. Основные характеристики и отличительные особенности системы:
  • Большой ионный ток травления.
  • Повышенная производительность при большой площади.
  • Высокоразрешающая электронная (LaB6) и ионная оптика. Обеспечивает получение стабильного изображения для травления/мониторинга процесса через длительные интервалы времени. Изображение и микроанализ в отсутствие зарядки.
  • Наличие стандартной низковакуумной системы для исследования непроводящих образцов. Система фигурного ионного травления. Позволяет проводить фигурное напыление и травление в соответствие с данными бинарного изображения, записанными в виде BMP-файла.
  • Поддерживает режим трехмерного нанотравления с непрерывным доступом к многочисленным данным, записанных в виде файлов изображений. Стандартная шлюзовая система для быстрой и простой загрузки в камеру без нарушения вакуума.
  • Максимальный размер загружаемого через шлюз образца: пластина диаметром 150 мм. Эффективная подготовка тонких фольг оптимальной толщины для просвечивающего электронного микроскопа. Полный набор портов для установки всех видов приставок. Большой столик позволяет проводить травление образцов диаметров до 76 мм.
  • Имеется полный набор портов для установки различный типов аналитических приставок, включая энергодисперсионный спектрометр, детектор системы дифракции отраженных электронов, спектрометр катодолюминесценции. Все порты расположены в оптимальных положениях для осуществления непрерывной работы со всеми видами приставок. Выполнение серии последовательных тонких срезов и реконструкция трехмерного изображения.
  • Наблюдение за последовательно выполняемыми тонкими срезами. Реконструкция трехмерных изображений на основе серии тонких срезов.
  • Вспомогательная телекамера для наблюдения за камерой и уточнения перемещений образца.
  • Эффективна для уточнения взаиморасположения образца по отношению к различным частям камеры, включая систему инжекции газа.
  • Дружественный, простой в понимании компьютерный интерфейс пользователя. Современный, четко читаемый графический интерфейс пользователя. Визуальное интуитивное управление от настройки рабочих условий РЭМ/ФИТ до проведения процесса и наблюдения за конечным результатом обработки.
Тип источника электронов гексаборид-лантановый катод (LaB6)
Низковакуумный режим есть
Пространственное разрешение 2,5 нм при 30 кВ ускоряющего напряжения
Энергия электронного луча от 0,3 до 30 кэВ
Увеличение от 5 до 300 000 крат
Ток луча 1 мкА максимум
Детекторы детектор вторичных электронов, детектор отражённых электронов
Аналитические приставки - опции система энергодисперсионного микроанализа, система волнодисперсионного микроанализа, система текстурного анализа поликристаллических образцов, спектральный анализ катодолюминесценции, охлаждающие (крио) и нагревающие столики образцов
Система вакуумной откачки 2 гетероионных насоса, турбомолекулярный насос, 2 форвакуумных насоса
Система шлюзования есть
Источник ионов жидкометаллический источник ионов галлия
Пространственное разрешение при сканировании ионным пучком 5 нм при 30 кВ ускоряющего напряжения
Ускоряющее напряжение ионной пушки от 1 до 30 кВ
Увеличение при сканировании ионным пучком 30 крат (для широкого поля зрения), от 100 до 300 000 крат
Максимальный ток ионной пушки 30 нА при 30 кВ ускоряющего напряжения
Дополнительное оборудование инфракрасная телекамера в камере обрацов, система инжекции газа для прецизионного электронно-стимулированного напыления под электронным пучком
Растровый электронный микроскоп JIB-4501 Multibeam с ионной пушкой для микротравления предусматривает проведение испытаний со следующими продуктами:

Растровый электронный микроскоп JIB-4501 Multibeam с ионной пушкой для микротравления предусматривает проведение испытаний в условиях, описанных в следующих стандартах:


© ТОО «Quantum Group»
2008 — 2017
8 (7232) 61-93-50