8 (7232) 61-93-50
Растровый электронный микроскоп JEOL JIB-4501 | Квантум Групп
8 (7232) 61-93-50
Микроскопы с ионным травлением

Растровый электронный микроскоп JEOL JIB-4501





Выбрано:

Растровый электронный микроскоп JEOL JIB-4501
Итого: 6 — 6 тенге

Чтобы узнать точную цену, оставьте свои контактные данные
Растровый электронный микроскоп с термополевой эмиссией и ионной пушкой JEOL JIB-4501 представляет собой многолучевую систему обработки образца, включающую в себя термоэмиссионный РЭM и высокоэффективную ионную колонну.

Прибор может быть использован как РЭM для наблюдения поверхности образцов или как система подготовки поперечного сечения с использованием ФИП, с последующим элементным анализом и получением изображения внутренней структуры материала с помощью сканирующего электронного микроскопа. ФИП можно использовать для точного травления и подготовки тонких образцов для ПЭМ.

Большая камера образцов расширяет возможный спектр применения оборудования. Режим низкого вакуума позволяет наблюдение в РЭМ непроводящих образцов без напыления, поэтому он может быть использован практически в любой области.
Полный анализ материала благодаря комбинации термоэмиссионному РЭМ и высокопроизводительной системе ФИП.
JIB-4501 имеет ионную колонну повышенной мощности, с максимальным током зонда 60 нА, чтобы производить быстрое травление. С его помощью можно выполнить травление поперечное среза большой площади, а также получать изображение в РЭМ, проводить ЭДС* и EBSD* анализ области.

Так как последовательность операций может быть выполнена в одном вакуумном пространстве, анализ может быть проведен без ухудшения поверхности образца при окислении. Большой столик может вместить образцы с диаметром до 75 мм и высотой до 30 мм. *опциональные приставки
Производство серии срезов и отбор изображений. Расположение электронной и ионной колонн JIB-4501 было продумано таким образом, что поперечное сечение, которое было получают с помощью ФИП можно наблюдать в РЭМ без изменения угла наклона столика.

Это позволяет пользователю выполнять непрерывную автоматическую последовательность операций травления поперечного сечения ФИП и получение изображений в РЭМ. Если использовать опциональное программное обеспечение Stack-N-Viz, то можно строить 3-мерные изображения, чтобы лучше понимать внутреннюю структуру образца.

Совместимость с другими продуктами JEOL
Серия JIB использует параметры, которые совместимы с серией JEM и устройствами серии JSM. Образцы, изготовленные с использованием серии JIB могут эффективно использоваться в других системах JEOL, чтобы получить еще более детальный анализ с отличным пропускной способностью.

Например, если фиксатор-ретейнер используется с наконечником держателя ПЭM серии JEM (подобно JEM-ARM200F) и со столиком JIB-4501 (рис. 1), нет необходимости в сложной обработки образца для ПЭМ, который уже установлен на сетчатую подложку, что существенно экономит время.
Источник ионов Ga источник
Ускоряющее напряжение от 1 до 30 кВ (с шагом 5 кВ)
Увеличение ×60 (для поиска обьекта)
рабочее ×200~×300,000 крат
Разрешение изображения 5 nm (при 30 кВ)
Ток пучка до 60 nA (при 30 кВ)
Подвижная диафрагма 12 положений (моторизованная)
Формы травления ионным пучком Прямоугольник, линия и точка
Растровый электронный микроскоп JEOL JIB-4501 предусматривает проведение испытаний со следующими продуктами:

Растровый электронный микроскоп JEOL JIB-4501 предусматривает проведение испытаний в условиях, описанных в следующих стандартах:


© ТОО «Quantum Group»
2008 — 2017
8 (7232) 61-93-50