8 (7232) 61-93-50
Растровый аналитический электронный микроскоп JSM-7100F | Квантум Групп
8 (7232) 61-93-50
Растровые электронные микроскопы

Растровый аналитический электронный микроскоп JSM-7100F


Пробоподготовка
Нажимая на галочки, выберите
компоненты, необходимые для Вашей организации
Приставки



Выбрано:

Растровый аналитический электронный микроскоп JSM-7100F
Итого: 6 — 11 тенге

Чтобы узнать точную цену, оставьте свои контактные данные
Растровый аналитический электронный микроскоп JSM-7100F, основной особенностью которого является электронная пушка на базе катода Шоттки – пушка особой конструкции, "погружённая" в конденсорную линзу.

Цель сочетания термополевого (Шоттки-) эмиттера и особой пушки – получение совокупности параметров, характерных для микроскопов с "холодным" полевым эмиттером высокий ток луча позволяет использовать методы волнодисперсионного микроанализа и спектрального анализа катодолюминесценции, что невозможно или затруднительно на микроскопах с "холодным" полевым эмиттером. 

Растровый аналитический электронный микроскоп JSM-7100F обладает высокой стабильность тока обеспечивает точность количественного анализа при энергодисперсионном и волнодисперсионном микроанализе.
Высокая степень монохроматичности (низкий энергетический разброс электронов ) обеспечивает возможность работы на сверхмалых ускоряющих напряжениях при сохранении высокого пространственного разрешения, т.к. вклад хроматической аберрации и при низких ускоряющих остаётся несущественным.

Растровый аналитический электронный микроскоп JSM-7100F, его высокая яркрость пушки обеспечивает высокое пространственное разрешение во всём диапазоне ускоряющих напряжений.

Средний срок службы термополевых катодов Шоттки при использовании их в электронных пушках патентованной конструкции JEOL составляет около пяти лет. Особое внимание следует обратить на то, что конструкция объективной линзы не предполагает погружение образца в магнитное поле линзы, т.о. в микроскопе возможно исследование магнитных образцов.
Тип источника электронов термополевой эмиттер (катод Шоттки)
Низковакуумный режим опция
Пространственное разрешение 1,2 нм (при 30 кВ), 3 нм (при 1 кВ)
Энергия электронного луча от 0,5 до 30 кэВ
Увеличение от 10 до 1 000 000 крат
Ток луча от 1 пА до 200 нА
Детекторы детектор вторичных электронов, детектор отражённых электронов (опция)
Аналитические приставки - опции системы энергодисперсионного и волнодисперсионного микроанализа, система текстурного анализа поликристаллических образцов, спектральный анализ катодолюминесценции, охлаждающие (крио) и нагревающие столики образцов, система электронно-лучевой литографии
Столик образцов моторизован по всем пяти осям (X, Y, Z, "поворот", "наклон")
Система вакуумной откачки 2 диффузионных насоса, 2 ионных насоса
Система шлюзования включена в базовый комплект
Растровый аналитический электронный микроскоп JSM-7100F предусматривает проведение испытаний со следующими продуктами:

Растровый аналитический электронный микроскоп JSM-7100F предусматривает проведение испытаний в условиях, описанных в следующих стандартах:


© ТОО «Quantum Group»
2008 — 2017
8 (7232) 61-93-50