8 (7232) 61-93-50
Просвечивающий электронный микроскоп JEOL JEM-ARM200F | Квантум Групп
8 (7232) 61-93-50
Просвечивающие электронные микроскопы

Просвечивающий электронный микроскоп JEOL JEM-ARM200F





Выбрано:

Просвечивающий электронный микроскоп JEOL JEM-ARM200F
Итого: 6 — 6 тенге

Чтобы узнать точную цену, оставьте свои контактные данные
Просвечивающий электронный микроскоп JEOL JEM-ARM200F является электронным аналитическим микроскопом с атомарным разрешением. В базовой конфигурации микроскоп оснащен СПЭМ корректором аберраций и обеспечивает самый высокий уровень разрешающей способности не хуже 78 пм в режиме СПЭМ.

Благодаря тому, что в базовой конфигурации микроскоп оснащен СПЭМ корректором аберраций и имеет конструкцию, отличающуюся улучшенной механической и электрической стабилизацией, гарантируется самое высокое среди приборов аналогичного класса разрешение не хуже 78 пм*1 или 82 пм*2 в режиме СПЭМ при использовании высокоуглового кольцевого детектора темного поля (STEM-HAADF).

Корректор аберраций позволяет значительно увеличить плотность тока пучка почти в 10 раз по сравнению с обычным типом полевого просвечивающего микроскопа, что обеспечивает выполнение высокоэффективного элементного анализа на атомарном уровне.
Разрешение изображения узлов атомной решетки для легких элементов в режиме СПЭМ с помощью кольцевого детектора светлого поля (STEM-ABF). Данный режим реализован как стандартный для JEM-ARM200F.

Благодаря оптимальному расстоянию между детектором светлого поля и высокоугловым кольцевым детектором темного поля в режиме СПЭМ возможно одновременно разрешать изображения узлов атомной решетки как для легких, так и для тяжелых элементов.

Благодаря ЭДС с большим телесным углом сбора сигнала обеспечивается выполнение элементного анализа на атомарном уровне. Кремневый дрейфовый ЭДС детектор (SDD)*3 с площадью детектирования 100 мм2 является собственной разработкой компании JEOL.
Получение изображений и анализ с использованием автоэмиссионного катода*4 Микроскоп может быть оснащен пушкой с автоэмиссионным катодом.

ПЭМ корректор аберраций ПЭМ корректор аберраций обеспечивает улучшение разрешающей способности микроскопа в ПЭМ режиме до уровня не хуже 110 пм.
Конфигурация*1 Ультравысокое разрешение Высокое разрешение
[Разрешение]
СПЭМ
Темнопольный режим
82 пм (200 кВ, пушка с катодом Шотки)
78 пм (200 кВ, пушка с автоэмиссионным катодом)
100 пм (200 кВ, пушка с катодом Шотки)
100 пм (200 кВ, пушка с автоэмиссионным катодом)
ПЭМ
(разрешение по точкам)
190 пм (200 кВ)
110 пм (200 кВ, с ПЭМ корректором аберраций)
230 пм (200 кВ)
120 пм (200 кВ, с ПЭМ корректором аберраций)
[Увеличение]
СПЭМ от х200 до х150 000 000
ПЭМ от х50 до х2 000 000
[Тип источника электронов]
Эмиттер*2 ZrO/W катод Шотки
W автоэмиссионный катод (опция)
ZrO/W катод Шотки
W автоэмиссионный катод (опция)
Ускоряющее напряжение От 80 до 200 кВ (стандартное значение 200 кВ) *3,*4
[Система управления столиком образца]*5
Столик Эвцентрический гониометрический столик с боковым вводом
Размер образца ø3 мм
Максимальный угол наклона*3 по оси X: ±25° по оси X: ±35°
по оси Y: ±25° по оси Y: ±30°
Диапазон перемещения (мм) X,Y: ±1, Z:±0.1
(моторизированный привод/ пьезопривод)
X,Y: ±1, Z:±0.2
(моторизированный привод/ пьезопривод)
[Корректор аберраций]
Корректор аберраций линзовой
системы формирования пучка
Встроен в базовой конфигурации
Корректор аберраций линзовой
системы формирования изображения
Опция
[Опция]
Основные устанавливаемые опции ЭДС
СХПЭЭ
Цифровая ПЗС камера
ПЭМ/СПЭМ томографии
Бипризма
Просвечивающий электронный микроскоп JEOL JEM-ARM200F предусматривает проведение испытаний со следующими продуктами:

Просвечивающий электронный микроскоп JEOL JEM-ARM200F предусматривает проведение испытаний в условиях, описанных в следующих стандартах:


© ТОО «Quantum Group»
2008 — 2017
8 (7232) 61-93-50