8 (7232) 61-93-50
Просвечивающий электронный микроскоп JEOL JEM-2800 | Квантум Групп
8 (7232) 61-93-50
Просвечивающие электронные микроскопы

Просвечивающий электронный микроскоп JEOL JEM-2800





Выбрано:

Просвечивающий электронный микроскоп JEOL JEM-2800
Итого: 6 — 6 тенге

Чтобы узнать точную цену, оставьте свои контактные данные
Просвечивающий электронный микроскоп JEOL JEM-2800 является многофункциональным микроскопом, позволяющим исследовать образцы в режимах ПЭМ и СПЭМ, и обеспечивает как высокое разрешение получаемого изображения, так и высокочувствительный анализ вместе с высокой эффективностью работы.

Широкий набор режимов работы, включающий режим РЭМ, позволяет использовать прибор для исследования образцов любого типа.
Новейшая конструкция электронно-оптической системы обеспечивает как высокое разрешение, так и высокоэффективный анализ образцов. Микроскоп легко переключается между режимами работы ПЭМ, СПЭМ, РЭМ и электронной дифракции.

При работе на микроскопе не требуется специальное затемнение в помещении. В сканирующем режиме можно одновременно получать как светлопольные и темнопольные СПЭМ изображения, так и РЭМ изображения исследуемого образца. Микроскоп позволяют оператору получить разнообразную информацию об образце в широком диапазоне увеличений, включая исследования на суб-наноуровне.
Управление микроскопом облегчается за счет автоматизации и системы навигации
Система микроскопа JEM-2800 обеспечивает выполнение множества функций в автоматическом режиме таких, как настройки яркости и контрастности изображения, подстройка высоты образца (Z), ориентирование кристаллического образца по плоскостям, фокусировка изображения и устранение астигматизма.

С другой стороны, система навигации JEM-NaviTM позволяет с помощью информационных видеороликов, поясняющих порядок работы на приборе, добиваться одинаково хороших результатов вне зависимости от уровня квалификации оператора. Использование в стандартной конфигурации вакуумной системы турбомолекулярного насоса позволяет сократить время смены образцов до 30 секунд.
Высокоскоростной анализ за счет сухой системы энерго-дисперсионного анализа с SDD детектором площадью детектирования 100 мм2
Hкомпании JEOL - кремниевому дрейфовому детектору (SDD)*1 с площадью детектирования 100 мм2. Система обеспечивает большой телесной угол сбора сигнала 0.95 стерадиан без влияния на другие характеристики микроскопа, что позволяет выполнять более быстрый и эффективный энерго-дисперсионный анализ по сравнению с предыдущими моделями.

Дополнительно, выбор оптимального размера пучка, подходящего для данного типа образца и метода измерения, обеспечивает выполнение более быстрого и точного анализа. *1 : опция

Функции управления данными и написания отчетов.
Для удобства пользователей наша компания разработала глобальную систему управления данными, которая позволяет готовить оперативные отчеты по полученным результатам. Изображения и данные анализа автоматически передаются по сети в интегрированную программу управления «Image Center»*2.

Любой пользователь с персонального компьютера может получить доступ к данным и осуществить их обработку с помощью следующих программ: «Image Excite» *2 для выполнения измерений, «Region Gauge Center»*2 для анализа частиц и «Image Report»*2 для составления отчета на основании полученных результатов. *2 : продукт компании SYSTEM INFRONTIER INC.
Разрешение
РЭМ (по краям) ≦0,5нм (при 200кВ),
≦1,0нм (при 100кВ)
СПЭМ 0,2нм (при 200кВ),
0,31нм (при 100кВ)
ПЭМ (по решётке) 0,1нм (при 200кВ)
0,2нм (при 100кВ)
Увеличение (при использовании широкоформатного 24” ЖК монитора)
РЭМ Х100~Х150 000 000
СПЭМ Х100~Х150 000 000
ПЭМ Х500~Х20 000 000
Источник электронов
Эмиттер ZrO/W(100)
Ускоряющее напряжение 200 кВ, 100 кВ
Система управления столиком образца
Столик образца (гониометр) Эвцентрический столик с боковым вводом
Размер образца ø3 мм
Максимальный угол наклона при
использовании держателя с наклоном по двум осям
по оси X : ±25°
по оси Y : ±30°
Диапазон перемещения при использовании
моторизированного привода/ пьезопривода
X,Y: ±1мм
Z: ±0,2мм
Опции
Основные устанавливаемые опции ЭДС
СХПЭЭ
Цифровая ПЗС камера
Система ПЭМ/СПЭМ томографии
Просвечивающий электронный микроскоп JEOL JEM-2800 предусматривает проведение испытаний со следующими продуктами:

Просвечивающий электронный микроскоп JEOL JEM-2800 предусматривает проведение испытаний в условиях, описанных в следующих стандартах:


© ТОО «Quantum Group»
2008 — 2017
8 (7232) 61-93-50