8 (7232) 61-93-50
Просвечивающий электронный микроскоп JEOL JEM-2200FS | Квантум Групп
8 (7232) 61-93-50
Просвечивающие электронные микроскопы

Просвечивающий электронный микроскоп JEOL JEM-2200FS





Выбрано:

Просвечивающий электронный микроскоп JEOL JEM-2200FS
Итого: 6 — 6 тенге

Чтобы узнать точную цену, оставьте свои контактные данные
Просвечивающий электронный микроскоп JEOL JEM-2200FS - новейший аналитический микроскоп, оснащенный катодом с полевой эмиссией, имеет встроенный в колонну энергетический фильтр (Омега фильтр), который позволяет получать четкие и высококонтрастные изображения, формированные только прошедшими упругорассеянными электронами с нулевой потерей энергии, исключая влияние неупругорассеянных электронов.

Изображения с фильтрацией по энергии, сформированные электронами с низкими потерями энергии или неупругорассеянными в результате взаимодействия с оболочками атомов, позволяют получать информацию о химическом составе образца. Так же можно получать спектры элементов, входящих в состав образца.

Встроенный в колонну энергетический фильтр (Омега фильтр)
Обеспечивает получение изображений с фильтрацией по энергии и спектров характеристических потерь энергии электронов. Оптимальная конструкция фильтра позволяет получать неискаженные изображения с фильтрацией по энергии.
Система управления
Управление основными компонентами микроскопа такими, как электронно-оптическая система, гониометрический столик и система откачки, контролируется с помощью компьютера. Это позволяет стабильно добиваться данных высокого качества.

Система формирования изображения
Новая система формирования изображения, включающая четырехступенчатую систему промежуточных линз и двухступенчатую систему проекционных линз, позволяет компенсировать эффект вращения изображения в широком диапазоне увеличений и длин камер для ПЭМ изображений с фильтрацией по энергии и дифракционных картин.
Гониометрический столик с пьезоприводом
Новый гониометрический столик благодаря пьезоприводу позволяет плавно перемещать образец и выбирать объекты для наблюдения на атомарном уровне.

Интегрирование с другим оборудованием
Система микроскопа управляется с помощью компьютера. Конструкция микроскопа позволяет интегрировать его с ЭДС и цифровой ПЗС камерой
Конфигурация*1 Ультравысокое разрешение
(URP)
Высокое разрешение
(HRP)
Большой угол наклона
(HTP)
Крио
(CRP)
Высокий контраст
(HCP)
Разрешение
 По точкам
 По решетке
0,19 нм
0,1 нм
0,23 нм
0,1 нм
0,25 нм
0,1 нм
0,27 нм
0.14 nm

0,31 нм
0,14 нм

Энергетическое разрешение 0,8 эВ (пик нулевых потерь ПШПВ)
Ускоряющее напряжение 160 кВ, 200 кВ*2
 Минимальный шаг
 Энергетическое смещение
50 B
3 00 В максимально (шаг 0,2 В)
Источник электронов
 Эмиттер ZrO/W (100) катод Шотки
 Яркость ≧4×108 A/см/ср
 Степень вакуума ×10-8 Pa
 Ток пучка 0,5 нА при диаметре пучка 1 нм
Стабильность
 Высокое напряжение ≦1×10-6/мин
 Ток объективной линзы ≦1×10-6/мин
 Ток линзовой системы фильтра ≦1×10-6/мин
Характеристики объективной линзы
 Фокусное расстояние 1,9 мм 2,3 мм 2,7 мм 2,8 мм 3,9 мм
 Коэф. сферических
 аберраций
0,5 мм 1,0 мм 1,4 мм 2,0 мм 3,3 мм
 Коэф. хроматических
 аберраций
1,1 мм 1,4 мм 1,8 мм 2,1 мм 3,0 мм
 Минимальный шаг фокуса 1,0 нм 1,4 мм 1,8 мм 2,0 нм 5,2 нм
Размер пятна (диаметр)
 Режим ПЭМ от 2 до 5 нм От 7 до 30 нм
 Режим ЭДС От 0,5 до 2,4 нм От 1,0 до 2,4 нм - От 4 до 20 нм
 Режим НПД (NBD) - -
 Режим СПД (CBD) От 1,0 до 2,4 нм -
Параметры режима дифракции в сведённом пучке
 Угол схождения (2α) От 1,5 до 20 мрад -
 Угол сбора ±10 ° -
Увеличение
 Режим MAG От 2 000 до 1 500 000 От 2 000 до 1 200 000 От 1 500 до 1 000 000 От 1 2000 до 600 000
 Режим LOW MAG От 50 до 1 500
 Режим SA MAG От 10 000 до 800 000 От 8 000 до 600 000 От 8 000 до 500 000 От 5 000 до 400 000
Размер области наблюдения для изображения с фильтрацией по энергии 80 мм в диаметре на конечной плоскости регистрации (пленка) при выборе 10 эВ
25 мм в диаметре на конечной плоскости регистрации (пленка) при выборе 2 эВ
Длина камеры
 Режим SA дифракции (мм) От 150 до 1 500 От 200 до 2 000 От 250 до 2 500 От 300 до 3 000
Дисперсия СХПЭЭ
 На энергоселектирующей щели 1,2 мкм /эВ при 200 кВ
 На конечной плоскости регистрации От 50 до 300 мкм/эВ при 200 кВ
Столик образца
 Перемещение( X, Y/Z) 2 мм/0,2 мм 2 мм/0,4 мм 2 мм/0,4 мм 2 мм/0,4 мм 2 мм/0,4 мм
 Наклон образца X / Y *3 ±25°/±25° ±35°/±30° ±42°/±30° ±15°/±10° ±38°/±30°
 Наклон образца X*4 ±25° ±80° ±80° ±80° ±80°
ЭДС*5
 Телесный угол*6 0,13 ср *7 0,09 ср
 Угол отбора 25° *7 20°
Просвечивающий электронный микроскоп JEOL JEM-2200FS предусматривает проведение испытаний со следующими продуктами:

Просвечивающий электронный микроскоп JEOL JEM-2200FS предусматривает проведение испытаний в условиях, описанных в следующих стандартах:


© ТОО «Quantum Group»
2008 — 2017
8 (7232) 61-93-50