8 (7232) 61-93-50
Просвечивающий электронный микроскоп JEOL JEM-2100F | Квантум Групп
8 (7232) 61-93-50
Просвечивающие электронные микроскопы

Просвечивающий электронный микроскоп JEOL JEM-2100F





Выбрано:

Просвечивающий электронный микроскоп JEOL JEM-2100F
Итого: 6 — 6 тенге

Чтобы узнать точную цену, оставьте свои контактные данные
Просвечивающий электронный микроскоп JEOL JEM-2100F является многофункциональным 200 кВ аналитическим микроскопом, оснащенным катодом с полевой эмиссией.

Разнообразие конфигураций способно удовлетворить самые широкие запросы различных пользователей. В отличие от термоэмиссионного катода, катод с полевой эмиссией позволяет получать пучок электронов высокой стабильности и яркости.

Данная особенность крайне важна для получения высокого разрешения в режиме СПЭМ и анализа объектов на нано уровне. На данный тип микроскопа могут быть установлены и интегрированы с компьютерной системой управления микроскопа такие опции, как ЭДС (энерго-дисперсионный спектрометр), СХПЭЭ (спектрометр характеристических потерь энергий электронов) и цифровая ПЗС камера.
Просвечивающий микроскоп с полевой эмиссией для высокого разрешения и анализа на нано уровне.
Полевой катод, отличающийся высокой яркостью и стабильностью, позволяет достигать атомарного разрешения в режиме СПЭМ.

Субнанометрический пучок электронов с высокой яркостью позволяет выполнять высокочувствительный анализ образцов на нано уровне.

Полевой катод является высоко когерентным источником электронов с узким разбросом по энергиям, что позволяет получать контрастное изображение при высоком разрешении.
Система управления столиком образца с повышенной стабилизацией
Благодаря системе столика образца с повышенной стабилизацией можно выполнять анализ на нано уровне.При наклоне и перемещении образца обеспечивается крайне низкий уровень дрейфа и вибраций.

С помощью опционального пьезопривода столик может перемещать образец на субнано уровне в диапазоне ±1,2 мкм. В системе могут быть использованы разнообразные типы держателей, позволяющие изучать образцы при различных физических условиях, включая нагрев и охлаждение, а так же выполнять наклон и вращение образца.

Интегрирование с другим оборудованием
Система микроскопа управляется с помощью компьютера. Конструкция микроскопа позволяет интегрировать его с ЭДС или СХХЭЭ спектрометрами, цифровой ПЗС камерой.
Конфигурация*1 Ультравысокое разрешение Высокое разрешение Большой угол наклона Крио Высокий контраст
Полюсной наконечник URP HRP HTP CRP HCP
Разрешение
 По точкам 0,19 нм 0,23 нм 0,25 нм 0,27 нм 0,31 нм
 По решетке 0,1 нм 0,1 нм 0,1 нм 0,14 нм 0,14 нм
Ускоряющее напряжение *2 160 кВ,200 кВ*1
 Минимальный шаг 50 В
 Размер шага Минимальный 50 В
Источник электронов
 Эмиттер ZrO/W (100) катод Шотки
 Яркость ≧4×108 A / cm2 / ср
 Степень вакуума 10-8 Pa
 Ток пучка 0,5 нА при диаметре пучка 1 нм
Стабильность
 Ускоряющее напряжение ≦1×10-6/мин
 напряжение ≦1×10-6/мин
Характеристики объективной линзы
 Фокусное расстояние 1,9 мм 2,3 мм 2,7 мм 2,8 мм 3,9 мм
 Коэф. сферических аберраций 0,5 мм 1,0 мм 1,4 мм 2,0 мм 3,3 мм
 Коэф. хроматических аберраций 1,1 мм 1,4 мм 1,8 мм 2,1 мм 3,0 мм
 Минимальный шаг фокуса 1,0 нм 1,4 нм 1,8 нм 2,0 нм 5.2 нм
Размер пятна (диаметр)
 Режим ПЭМ от 2 до 5 нм От 7 до 30 нм
 Режим ЭДС От 0,5 до 2,4 нм - - От 4 до 20 нм
 Режим НПД (NBD) - - -
 Режим СПД (CBD) От 1,0 до 2,4 нм -
Параметры режима дифракции в сведённом пучке
 Угол схождения От 1,5 до 20 мрад - -
 Угол сбора ±10° - -
Увеличение
 Режим MAG От 2 000 до 1 500 000 От 1 500 до 1 200 000 От 1 200 до 1 000 000 От 1 000 до 800 000
 Режим LOW MAG От 50 до 6 000 От 50 до 2 000
 Режим SA MAG От 8 000 до 800 000 От 6 000 до 600 000 От 5 000 до 600 000 От 5 000 до 400 000
Длина камеры
 Режим SA дифракции (мм) От 80 до 2 000 От 100 до 2 500 От 150 до 3 000
 Режим HD дифракции (м) От 4 до 80
 Режим HR дифракции*2 333 мм
Перемещение образца
 X,Y 2 мм 2 мм 2 мм 2 мм 2 мм
 Z ±0,1 мм ±0,2 мм ±0,2 мм
Наклон образца
 X / Y*3 ±25/±25° ±35/±30° ±42/±30° ±15/±10° ±38/±30°
 X*4 ±25° ±80° ±80° ±80° ±80°
СПЭМ*5
 Разрешение по решётке для детектора светлого поля 0,2 нм - -
ЭДС*6
 Телесный (30мм2) 0,13 ср 0,13 ср 0,13 ср *8 0,09 ср
 Телесный (50мм2)*7 0,24 ср 0,28 ср 0,23 ср
 Угол отбора (30мм2) 25° 25° 25° *8 20°
 Угол отбора (50мм2)*7 22,3° 24,1° 25°
Просвечивающий электронный микроскоп JEOL JEM-2100F предусматривает проведение испытаний со следующими продуктами:

Просвечивающий электронный микроскоп JEOL JEM-2100F предусматривает проведение испытаний в условиях, описанных в следующих стандартах:


© ТОО «Quantum Group»
2008 — 2017
8 (7232) 61-93-50