8 (7232) 61-93-50
Фотоэлектронный спектрометр JEOL JPS-9200 | Квантум Групп
8 (7232) 61-93-50
Фотоэлектронные спектрометры

Фотоэлектронный спектрометр JEOL JPS-9200





Выбрано:

Фотоэлектронный спектрометр JEOL JPS-9200
Итого: 6 — 6 тенге

Чтобы узнать точную цену, оставьте свои контактные данные
Фотоэлектронный спектрометр JEOL JPS-9200 - спектрометр общего назначения, анализирующий большую область поверхности от 30μm до 3 mm диаметром.

Ионная микро-пушка
Высокопрецизионная ионная пушка с уникальной технологией электронной оптики от JEOL. Узкая область травления позволяет проводить серию анализов выбранной области.

Система гибридных линз
Рутинный анализ микрообластей и даже обширных поверхностей без повреждения образца теперь становится возможным, благодаря выбору желаемой области детектирования, вместо фокусирования рентгеновских лучей.

Программное обеспечение для анализа поверхности
Помимо наших традиционных способов разделения сигнала, мы представляем новые алгоритмы разделения сигналов с использованием фактического спектра и использующих стандартную библиотеку спектров РФЭС и Оже-спектроскопии. Это освобождает операторов от производства сложных настроек параметров, которые требуют опыта и знаний, что дает возможность выполнять сложный анализ состояния химических связей даже новичкам.
Разрешение и интенсивность спектра
Ag3d5/22 фотоэлектронный пик (эквивалент 300 Вт MgKa линии)
Расстояние между точками, соответствующими 16% и 84% от полной интенсивности, получаемой в результате построения линейного профиля при сканировании образца перпендикулярно окну, является диаметром анализа (пространственным разрешением).
Диаметр анализа
0.9 эВ
1.15 эВ
Макрообласть 900,000 cps или более 1,800,000 cps или более
Ø 1 мм 480,000 cps или более 900,000 cps или более
Ø 0.2 мм 50,000 cps или более 100,000 cps или более
Ø 0.03 мм 1,500 cps или более 3,000 cps или более
Алюминемагниевый двойной анод
Максимальная мощность Mg 500Вт, Al 600Вт
При использовании монохромного рентгеновского источника
Ag3d5/2 фотоэлектронный пик (эквивалент 600 Вт AlKa линии)
Интенсивность (cps) 100,000 cps или более
Разрешение (эВ) 0.65 эВ
Система линз Комбинированные электромагнитные и электростатические линзы с апертурами «поля зрения» и «приемного угла»
Детектор Многоканальный детектор
Диапазон сканирования по энергии 0~1480 эВ
Энергия прохода (CAE) От 5 до 200 эВ
CRR ΔE/E  0.15 to 0.5 %
Стандартный держатель Максимальный размер образца 10 мм x 10 мм x 2 мм (толщина) Одновременная загрузка до 6 образцов
Большой держатель Ø 90 мм × 1.5 мм (толщина) макс.
Перемещение образца X: 0 to 50 мм; Y: 0 to 18 мм,Z: –2 to 2 мм; T: –10 to 10°
Предельное давление в камере образцов 7×10-8 Пa
Фотоэлектронный спектрометр JEOL JPS-9200 предусматривает проведение испытаний со следующими продуктами:

Фотоэлектронный спектрометр JEOL JPS-9200 предусматривает проведение испытаний в условиях, описанных в следующих стандартах:


© ТОО «Quantum Group»
2008 — 2017
8 (7232) 61-93-50