8 (7232) 61-93-50
Просвечивающий микроскоп атомарного разрешения JEM-ARM200F | Квантум Групп
8 (7232) 61-93-50
Просвечивающие электронные микроскопы

Просвечивающий микроскоп атомарного разрешения JEM-ARM200F


Пробоподготовка
Нажимая на галочки, выберите
компоненты, необходимые для Вашей организации
Приставки



Выбрано:

Просвечивающий микроскоп атомарного разрешения JEM-ARM200F
Итого: 6 — 11 тенге

Чтобы узнать точную цену, оставьте свои контактные данные
Просвечивающий микроскоп атомарного разрешения JEM-ARM200F, включающая корректор сферической аберрации для электронной оптической системы в качестве стандартного оборудования, достигает разрешения в растровом просвечивающем режиме (STEM-HAADF) 0,08 нм, что является наивысшим значением в мире среди серийных моделей электронных микроскопов.
Электронный зонд после коррекции всех аберраций отличается тем, что он имеет на порядок большую плотность тока по сравнению с обычными просвечивающими электронными микроскопами.

При тонкой фокусировке такого зонда просвечивающий микроскоп атомарного разрешения JEM-ARM200F позволяет проводить анализ на атомном уровне при значительном сокращении времени измерения и повышения производительности исследований.
ПараметрыЗначения
Тип эмиттератермополевой катод Шоттки или высокостабильный "холодный" полевой эмиттер (на выбор пользователя)
Разрешение по точкам0,19 нм (без TEM-корректора), 0,11 нм (с TEM-корректором)
Просвечивающий сканирующий режимразрешение 0,08 нм при использовании темнопольного детектора
Ускоряющее напряжениеот 80 до 200 кВ
Диапазон увеличенийот 50 до 2 000 000 в TEM-режиме, от 100 до 150 000 000 в STEM-режиме
Возможные аналитические методы (опции)энергодисперсионный микроанализ, спектроскопия характеристических потерь энергии электронов
Корректор сферических аберраций для STEM-режимав базовой конфигурации
Корректор сферических аберраций для TEM-режимаопция
Просвечивающий микроскоп атомарного разрешения JEM-ARM200F предусматривает проведение испытаний со следующими продуктами:

Просвечивающий микроскоп атомарного разрешения JEM-ARM200F предусматривает проведение испытаний в условиях, описанных в следующих стандартах:


© ТОО «Quantum Group»
2008 — 2017
8 (7232) 61-93-50